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holmarc CCD Based Constant Deviation Spectrometer 基于CCD的恒定偏差光谱仪（用于电弧发射和吸收测量）使用CCD成像代替照相卤化银胶片。由于在加工过程中没有消耗品和障碍物，因此很难在教室中进行基于卤化银膜的光谱实验。CCD光谱成像是一个及时的解决方案。数据采集既简单又快速。由于大多数商业光谱仪都基于数字成像，因此学生可以了解光谱学的xin趋势。
实验范例
为了测量KMnO4的吸收带的波长并计算其哈特曼常数。
通常在增加波长的方向上测量光谱线的位置。常数d取决于刻度设置，C取决于光谱范围，并且对于仪器而言是常数。为了确定这些常数，我们采用标准谱图的三条突出显示线和方程式，
A =（λ2- λ1）/（λ3- λ1）
B =（d2– d1）/（d3– d1）
C = [（λ2- λ1）（d0- d1）（d0-2）] /（d2- d1）
d0=（B d3-A d2）/（B-A）
λ0=（Aλ3- Bλ2）/（A-B）
其中，A，B，C，λ0，d0被称为哈特曼的常数。使用这些哈特曼常数，我们可以将吸收带波长计算为
λ=λ0+ [C /（d0- d）]
在铜，铁和黄铜的发射光谱中找到突出线的波长
电弧光谱的相应线的波长可以使用以下公式计算：
λ=λ0+ [C /（d0- d）]
技术指标设计：恒定偏差120 F棱镜类型：佩林·布罗卡（N-SF1）折光率：1.7波长范围：380-680nm分辨率：0.1纳米输入：微米控制的狭缝
相机规格CCD传感器：线传感器像素数：3648像素大小：800 x 200微米ADC分辨率：16位曝光时间范围：0.1ms-6,500ms帧率：每秒高达138次扫描介面：USB 2.0兼容性：Windows 7或更高版本
特征现代，用户友好和精确的设计可以观察到发射光谱和吸收光谱CCD成像系统高品质的光学元件可产生清晰清晰的光谱
holmarc CCD Based Constant Deviation Spectrometer
