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日本日立 手持式光谱仪
X-MET8000 是一款手持式 X 射线荧光 (XRF) 分析仪，可提供快速无损的分析以及准确的牌号识
别，实现理想的质检和质保。
该分析仪将高性能 X 光管和大面积硅漂移探测器 (SDD) 结合在一起，能够为客户提供各种质量检验 应用。
借助 X-MET8000，您可在数秒内得到实验室质检 结果，并降低检测成本，缩短检测时间。
分析结果值得您信任
X-MET8000 *美结合了通用的基本参数 (FP) 方法和经验 系数法（可溯源的标准物质），可提供超高的分析精密度 和准确度。
性能优异
该分析仪提供对轻元素（Mg 到 S）的出色分析，可快 速测试大多数商业用合金，包括铝合金、硅和铝青铜 等。其提供低检测限制，可准确区别相近牌号（例如 303-304、6061-6063），并可在数秒内得到实验室质 检结果。
易于操作
直观的图标驱动式用户显示意味着操作员几乎不需任 何培训。该分析仪拥有便于快速制定决策的可自定义 结果屏幕，同时显示您所需的重要信息。
该分析仪具备轻便性（1.5 千克），采用了符合人体工 学的设计，因此操作舒适，适合日常使用。屏幕方便 操作员阅读，即使在阳光直射下也不受影响，且可在 穿戴手套的情况下操作。
准确
样品尺寸自动补偿，可准确测试直径小至 1 毫米的管材、 杆体、线材，以及焊缝、紧固件、车削下脚和碎屑等。
日本日立 手持式光谱仪
