（测量）PR-YB01平面光学元件光谱分析仪

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平面光学元件光谱分析仪（型号：PR-YB01） 

测试类型：
1.光学元件的反射
2.透射光谱测量多角度
3.相对反射率测量，透射率测量
4.反射/透射比及膜性测量 
适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能
 
波长范围：380~1000nm/600~1200nm）
角度位移范围：2.5~357.5°
zui小角位移：0.01°
波长分辩率：0.03nm~10nm（由所选波长范围确定）
测量zui大相对误差：<1.0%
动态范围：2×108，1300：1（单次测量）
校正线性度：99.8%
单次测量时间：100ms（zui小）
功耗：200W电源： 210~245V - 45~60Hz
信号接口：USB 2.0（USB 1.1 兼容）
操作系统：Windows