今天，中华干燥网小敏给大家介绍一下（测量仪）Nanocalc系列膜厚测量仪，以下（测量仪）Nanocalc系列膜厚测量仪的内容是小敏网上整理，希望对您有用。
Nanocalc系列膜厚测量仪的原理：
利用白光干涉测量法的原理，NanoCalc-2000用一个宽光谱的光源来测得不同波长的反射数据，由于反射率n和消光系数k随膜厚的不同而变化，NanoCalc-2000根据这一特性来进行曲线拟合从而求得膜厚。在NanoCalc-2000中，不同类型材料的相应参数通过不同的模型来描述，从而保证了不同类型材料膜厚测量的准确性。
Nanocalc系列膜厚测量仪的特点：
UV/VIS/NIR高分辨率的配置测量准确度在1nm，精度在0.1nm可测量4层薄膜的任意3层薄膜测量zui小可至10nm，zui大可至400um可测量zui小1nm厚的透明金属层提供用于复杂外形材料测量的试验台及附件对表面缺陷和光滑度不敏感庞大的材质数据库，保证各种材料的精确测量NanoCalc-2000-UV/VIS/NIR膜厚测量仪的技术参数：
