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Q8344AAdvantest Q8344A光谱分析仪
可以进行连续测量的光谱分析仪爱德万Q8344A .连续测量.1.5秒/扫描的高速测量.0.35|m到1.75|m的宽波长范围.0.1nm的波长测量精度 Q8344A光谱分析仪
Q8344A是具有0.35到1.75|m的宽波长范围的光谱分析仪。在傅立叶光谱系统中,迈克尔逊干涉仪的应用使单色器的离散光谱系统所不能进行的连续分析成为可能。它显示了评估CD和视频光盘的激光二极管的能力。作为参考波长的内置HE-NE激光器可以识别?0.1nm(1.3nm) 的波长精度甚至在不经过波长校准的情况下也可以保证长期的测量稳定性。 Q8344A提供了大0.05nm(在0.85|m)的波长分辨率适合于测量窄模式间隔的激光二极管。不论分析的跨度多少测量速度进约为1.5秒在0.4|m到1.05|m和0.8|m到1.75|m使它可以作为系统一部分。
Q8344A具有全面的显示、分析和处理功能它可以对诸如激光二极管和LED之类的光发射元件以及光纤和滤波器光元件进行特性测量。连续测量由于Q8344A使用了迈克尔逊干涉仪它可以进行连续测量。这项功能使它可以轻松地对视频光盘的激光二极管的回光所引起的噪声抑制进行评估分析范围大约为?10mm。 1.5秒/扫描的高速测量 Q8344A采用傅立叶频谱系统因而对任何的测量跨度和灵敏度都可以在1.5秒内完成测量。(提供起始波长是0.4|m或更长并且测量不能同时覆盖短的波长和长波长)。因此分析仪适合于测量生产线上的激光二极管和LED并且可以评估光纤和滤波器的传输和损耗的特征。
当作为系统组成部分时分析仪只需要1.5秒就可以完成触发测量和数据输出。 0.05nm的大波长范围在短波长(0.85|m)时Q8344A提供0.05nm的大分辨率使它可以以全分解振荡模式依次对CD和可视光激光二极管进行测量。大量规光纤输出选件 200|m大量输出可以作为选件使用。当分析波长大于标准光纤量规(GI50|m)的装置时可选用此选件。对激光二极管分析推荐标准50-|m规格对LED分析推荐选用规格。
