(激光)J200LA-LIBS激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统

  • 2023-02-28 19:05:12
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J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统该软件制作的LIBS图涵盖了ICP-MS难以处理的主要和次要元素,如轻元素、有机元素以及卤素,在目标点的重复激光采样过程中,Clarity LIBS分析软件中的DepthTracker™能瞬时监测所选元素的LIBS发射峰值强度,揭示不同样品深度处元素组成的变化,复合系统软件允许分析人员执行PCA(主成分分析),并可观察从样品中收集到的一组LIBS光谱和质谱之间的差异。软件中的PCA工具是使用LIBS、质谱或两个光谱对各种样品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地质矿物等)进行分类或鉴别的理想方法。

技术优势:1、多功能取样方法:全分析、微区&夹杂物分析,深度分析和元素成像;2、Axiom LA 系统软件,硬件部件的全面控制与测量自动化;3、紧凑型微集气管设计,以消除脱气和记忆效应;4、双摄像机,一个于高倍成像,另一个用于样品表面的广角观察;5、系统传感器,确保激光剥蚀一致性;6、创新的模块化系统为LA,LIBS,或LA – LIBS复合系统的配置设计。

J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统使用Clarity复合系统分析软件,分析人员可应用单变量或多变量校准模型进行准确的定量分析。通过参考标准浓度值直接赋值给LIBS或ICP-MS强度,单变量校准曲线可轻松生成。该软件附带一个常用的固态标样,用于单变量校准,Axiom LA软件是ICP-MS数据管理和分析工具,这些工具对于获得标准的定量结果和标准的统计非常重要,同时,时间分辨ICP-MS信号也可以非常流畅,并且可以轻而易举地获得TRSD(时间相对标准偏差)统计学数值。

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