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珀金埃尔默Avio 200电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-OES系统能处理难度高的、未经稀释的高基体样品，为ICP带来全新的性能及灵活性。而且，*的性能还带来了*的易用性。*的硬件特性与业界直观易用的软件相结合，使多元素测量变得与单元素分析一样简单。作为市场上小巧的Avio 200电感耦合等离子体发射光谱仪可通过以下性能，提供高效的操作、较可靠的数据和低的拥有成本：•所有ICP中低的氩气消耗•较快的ICP启动（从关机状态启动，光谱仪在短短几分钟内即可准备就绪）•对所有适用的元素都具有出色的灵敏度与分辨率•具有双向观测技术的宽线性范围•性能可靠、功能强大、经济实惠、Avio 200 ICP-OES具备您所寻求的ICP所具有的一切。
强大的双向观测功能与提供轴向和径向观测而牺牲性能的同步垂直双向观测ICP系统不同，Avio 200 ICP-OES系统获得专业的双向观测功能，可测量所有波长，不会造成光或灵敏度的损失。即使是波长大于500纳米或低于200纳米的元素也完全可以测量，即便是在ppb的含量水平。珀金埃尔默Avio系统*的双向观测设计也提供了可扩展的线性动态范围，确保实现：•样品制备和稀释小化•高、低浓度可以在同一运行中进行测量•更好的质量控制和更准确的结果•减少重复运行集成等离子体观测相机可简化您的开发方法，同时借助Avio 200 ICP-OES系统的PlasmaCam™技术，尽享远程监控等离子体的便利。作为行业*，彩色相机可帮助您：•实时观测等离子体•执行远程诊断•查看进样部件革新性PlasmaShear系统，可实现无氩干扰消除为了消除轴向观测的干扰，需要消除等离子体的冷尾焰。没有其他同类仪器能比Avio 200ICP-OES更有效、更可靠或更经济。其他ICP消除尾焰需要消耗高达4升/分钟的氩气流量，Avio系统*的PlasmaShear™技术只需空气即可。无需高维护、高提取系统或锥体。就是一个完全集成的、完全自动化的、能提供*轴向分析的干扰消除系统。CCD检测器，可实现的准确度和精密度借助全波长功能，Avio 200 ICP-OES系统的强大电荷耦合器件（CCD）检测器能不断提供正确的答案。Avio ICP-OES系统的CCD检测器可同时测量所选谱线及其谱线附近波长范围，实时扣背景，实现出色的检测精密度。在分析过程中，它还可以同时执行背景校正测量，进一步提高准确度和灵敏度。带有快速转换炬管底座的垂直等离子体，可实现的基体灵活性即使ICP正在运行，Avio 200 ICP-OES系统的垂直炬管无需工具也能进行简便快捷的调节，可提供更大的样品灵活性并简化维护。炬管底座的设计与众不同，具有以下特点：•一个可拆卸的、独立于炬管的中心管，旨在减少维护和破损的可能性•自动自对准，即使在拆卸后也能提供*的深度设置•兼容各种雾化器和雾室，可提高灵活性
