（光谱）ATP5104高性能光纤光谱仪

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ATP5104-紫外增强高性能光纤光谱仪

产品概述

ATP5104是奥谱天成针对紫外光谱，特别研制的高性能紫外增强型微型光纤光谱仪，它采用3072像素的紫外增敏线性CCD，可以适应165-1100nm波长范围的测试，CCD检测器曝光时间可以控制在1ms之内，同时，奥谱天成为ATP5104特别定制了超低噪声CCD信号处理电路，其量化噪声小于3 counts，为业界*水平，可以帮助您可以获得*的光谱信噪比。

ATP5104是紫外、可见、近红外光谱应用的理想选择，有不同的狭缝、光栅、反射镜、滤光片可以选择，可以根据您的需求，配置适合不同应用场合的光谱仪，光谱范围从165nm起至1050nm，光谱分辨率可在0.5到4.0nm之间选择，奥谱天成也可为OEM客户提供定制选择。

ATP5104可以接收SMA905接口光纤输入或者自由空间输入的待测光，根据设定的积分时间进行测量，将测量结果通过USB2.0（高速）或者UART输出；

ATP5104-紫外增强高性能光纤光谱仪

特点：

紫外增强高性能背照式CCD

专门针对紫外优化的光路和结构；

探测器：背照式CCD

探测器像素：3072

超低噪声CCD信号处理电路

光谱范围:165-1100 nm

光谱分辨率: 0.1-4 nm(取决于光谱范围、狭缝宽度)

光路结构：交叉C-T

积分时间：2ms-130s

供电电源：DC 5V±10%@ <2.3A

18 bit, 570KHz A/DConverter

光输入接口：SMA905或自由空间

数据输出接口: USB2.0(High speed)或UART

20针双排可编程外扩接口

ATP5104-紫外增强

典型应用：

拉曼光谱仪

微量、快速分光光度计；

光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析

透过率、吸光度检测；

反射率检测；

紫外、可见和短波近红外

波长检测