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J200飞秒激光剥蚀进样系统采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析，来自ASI公司严谨的科研和技术支持是其它技术无法达到的。使用ASI公司的产品，意味着能直接和研究团队交流，并得到专业的技术支持，J200LA-fs飞秒激光剥蚀进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破。J200LA-fs确保元素和同位素不分解的情况下，均匀剥蚀样品成透明状，这意味着剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性，这是采用长脉冲激光技术无法达到的。
双照相系统扫描样品：J200LA-fs 的两个相机提供广角和放大的样品图像。∫ Integra允许用户先获取样品的广角图像，然后在图像上扫视不同的位置，高倍放大选定点。
技术指标：1、供电要求：110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保险10A；2、可选项：LA升级为Tandem系统；3、LIBS检测器：Czerny Turner光谱仪 / ICCD检测器；4、与ICP-MS通讯：在J200和ICP-MS之间实现双向控制；5、样品成像光源：泛光LED灯，同轴反射光和透明光源，正交十字光；6、自动X-Y轴：100 mm X 100 mm 行程范围，分辨率0.2微米；7、激光光闸：自动光闸保证激光能量稳定。
J200飞秒激光剥蚀进样系统均匀剥蚀样品成透明状，这意味着剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性，这是采用长脉冲激光技术无法达到的，用户简单、方便地操作硬件部件。只需简单点击tab键，用户即可检查飞秒激光、气流系统、光模块、3-D操作台、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态，不同用户组可赋予不同的使用权限。
