今天，中华干燥网小敏给大家介绍一下（薄膜）NanoCalc薄膜反射光谱仪系统，以下（薄膜）NanoCalc薄膜反射光谱仪系统的内容是小敏网上整理，希望对您有用。
薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250μm的膜厚分析测量，对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同，可以分析单层或多层膜厚。
NanoCalc薄膜反射光谱仪系统特点
可分析单层或多层薄膜分辨率达0.1nm适合于在线监测操作理论
常用的两种测量薄膜的特性的方法为光学反射和投射测量、椭圆光度法测量。NanoCalc利用反射原理进行膜厚测量。
查找n和k值
可以进行多达三层的薄膜测量，薄膜和基体测量可以是金属、电介质、无定形材料或硅晶等。NanoCalc薄膜反射光谱仪系统软件包含了大多数材料的n和k值数据库，用户也可以自己添加和编辑。
应用
NanoCalc薄膜反射材料系统适合于在线膜厚和去除率测量，包括氧化层、中氮化硅薄膜、感光胶片及其它类型的薄膜。NanoCalc也可测量在钢、铝、铜、陶瓷、塑料等物质上的抗反射涂层、抗磨涂层等。
