（光谱）显微光谱测量系统MicroTEQ-S1

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MicroTEQ-S1显微光谱测量系统，集成荧光、拉曼和反射光谱测量功能。通过把光谱模块集成到显微镜上，实现显微荧光、拉曼和其他光谱信息的测量。系统由光谱仪、激光器、光源、显微镜等部分构成，自由灵活，帮助用户快速对样品微观结构，微观光谱信息的测试和分析；此外系统可以加装二维电控扫描台，通过软件控制，实现光谱二维扫面测量功能。

应用范围

微流控；

植物叶片研究；

激光材料评价；

生物和细胞测试；

光子晶体测试；

珠宝、古籍检测;

纳米材料分析；

拉曼模式

拉曼探头可直接插入显微光谱测试模块中，从而快速实现拉曼光谱测量。支持光谱范围覆盖400-1100nm，仅需通过更换探头和激光器，便可实现488nm、532nm、633nm、785nm激发波长的拉曼光谱测量。

搭配便携式拉曼光谱仪

显微光谱测试模块也能够适配ACCUMAN SR 系列科研级便携拉曼，即插即用的工作模式让您不仅可以实现便携的拉曼光谱测量，还可以更方便地在实验室内实现显微拉曼光谱分析。

其他模式

荧光测量：显微光谱测量模块内部集成了荧光测试光路，通过SMA905光纤接口与荧光激光器和荧光光谱仪连接。其中连接激光器的SMA905接头，可以改装成为自由空间光作为输入光源，从而得到更强的激发功率或更好的光斑质量。模块中带滤光片插槽，可以放置适配不同激发波长的激发滤光片和发射滤光片，实现不同激发波长的显微荧光测量。

颜色和反射测量：使用光纤把钨灯光源和显微光谱测量模块连接起来，共用荧光光路，即可实现显微反射光谱测量和显微颜色测量功能。

二维Mapping：选配二维电动平台，使用操作软件设置面扫描采样，获取一定范围内的逐点扫描光谱数据，可用于表征材料表面微观结构和光谱成像。同时测试结果还可以通过图像绘制的方式呈现出来。

光谱仪配置	拉曼	拉曼	荧光
光谱仪	QEPRO@532nm	QEPRO@785nm	QEPRO-FL
光谱范围	150-4200cm-1@532nm	150-2000cm-1@785nm	300-1050nm
分辨率	~10cm-1@5um狭缝	~6cm-1@5um狭缝	1.5nm@5um狭缝
信噪比	1000:1
A/D	18位
探测器	背照减薄型面阵CCD
杂散光	0.08%@600nm
线性度	>99%
动态范围	85000:1
暗噪声	6RMS@18位
积分时间	8ms-60mins
激光器	LASER-532	LASER-785	LASER-405	LASER-450
激光波长	532nm	785nm	405+/-2nm	450+/-2nm
激光功率	0-300mW可调	0-500mW可调	0-200mW可调	0-200mW可调
线宽	<0.2nm	<0.1nm	2nm	2nm
寿命	10000h	10000h	10000h	10000h
拉曼探头	RPB-532	RPB-785
OD值	OD>6	OD>6
焦距	7.5mm	7.5mm
激光输入端光纤	100um
光谱收集端光纤	200um
显微光谱测量模块	Micro-S1
显微光谱测量模块	光谱范围：400-1100nm
显微镜	4组平场消色差物镜：5X,10X,20X,50X
	5X，数值孔径：0.15，工作距离：10.8mm
	10X，数值孔径：0.3，工作距离：10mm
	20X，数值孔径：0.45，工作距离：4mm
	50X，数值孔径：0.55，工作距离：7.9mm
	100X，数值孔径：0.8，工作距离：4mm（非标配，可选）
	1/2”CMOS彩色CCD，2048*1536（300万像素）
	载物台面积175mm×145mm，移动范围：76mm×42mm
二维电控平移台（可选配）	一体式二维电控平移台，含控制器；
	行程：50mmx50mm；
	重复定位精度：2um；
	移动分辨率：1um；